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              測(cè)試手機(jī)內(nèi)存卡的目的及要求是什么

              更新日期:2013-08-30 點(diǎn)擊量:3254

              測(cè)試手機(jī)內(nèi)存卡的目的及要求是什么

              蒸汽老化機(jī)    臭氧老化箱   紫外線老化箱     高溫老化箱 恒溫恒濕箱 冷熱沖擊箱 環(huán)境試驗(yàn)箱


              冷熱沖擊試驗(yàn)箱的測(cè)試手機(jī)內(nèi)存卡的目的及要求為以下幾點(diǎn),供參考

              一、冷熱沖擊箱試驗(yàn)?zāi)康模捍_定測(cè)試產(chǎn)品在周圍大氣溫度急劇變化時(shí)的適應(yīng)性及被破壞性www.asliyq.com

              二、冷熱沖擊試驗(yàn)箱試驗(yàn)條件:高溫箱(RT~150℃)低溫箱(RT~-40℃),測(cè)試溫度保持時(shí)間為1小時(shí)或是直至試驗(yàn)樣品達(dá)到溫度穩(wěn)定.以時(shí)間長(zhǎng)者為準(zhǔn),循環(huán)次數(shù),針對(duì)不業(yè)不同廠家所對(duì)應(yīng)的試驗(yàn)要求不一樣,按照標(biāo)準(zhǔn)上的試驗(yàn)方法進(jìn)行測(cè)試

              三、恢復(fù):測(cè)試產(chǎn)品從試驗(yàn)箱內(nèi)取出后,要在正常的試驗(yàn)大氣條件下來進(jìn)行恢復(fù),直到試驗(yàn)樣品達(dá)到溫度穩(wěn)定

              四、冷熱沖擊試驗(yàn)箱的測(cè)試手機(jī)內(nèi)存卡的要求:www.asliyq.com

                a.采用高溫箱和低溫箱進(jìn)行冷熱沖擊測(cè)試,以提供試驗(yàn)樣品經(jīng)受周圍空氣溫度急劇發(fā)生變化的環(huán)境溫度

               c.低溫區(qū)的要求,須符合GJB150.4-86《軍用設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法低溫試驗(yàn)》的3章各條所規(guī)定的測(cè)試要求

               b.高溫區(qū)的要求,須符合GJB150.3-86《軍用設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法高溫試驗(yàn)》的3章各條所規(guī)定的測(cè)試要求

               d.冷熱沖擊試驗(yàn)箱可提供高溫試驗(yàn)部分和低溫試驗(yàn)部分,分別符合GJB150.3-86和GJB150.4-86的3章各條所規(guī)定的測(cè)試要求

               e.試驗(yàn)箱的容積須保證在試驗(yàn)樣品放入候補(bǔ)超過試驗(yàn)溫度保持時(shí)間的10%就能使試驗(yàn)箱(室)溫度達(dá)到GJB150.1-89中3.2條規(guī)定的試驗(yàn)條件容差范圍之內(nèi)

              五、冷熱沖擊試驗(yàn)箱控制系統(tǒng):www.asliyq.com

              低溫區(qū)與高溫區(qū)轉(zhuǎn)換時(shí)間≤15s

              溫度恢復(fù)時(shí)間≤5min

              六、冷熱沖擊試驗(yàn)箱參照標(biāo)準(zhǔn):www.asliyq.com

              GB/T2423.1.2、GJB150.4、GB/T2423.2、GB10592、GJB150.3

              以上是關(guān)于環(huán)境試驗(yàn)箱的相關(guān)信息,如需了解更多關(guān)于各種環(huán)境試驗(yàn)箱的保養(yǎng)、維護(hù)、維修等信息,請(qǐng)!

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